20世纪30年代初，出现了磁通门技术，它可以测定恒定和低频弱磁场，其基本原理是利用高磁导率、低矫顽力的软磁材料磁芯在激磁作用下，感应线圈出现随环境磁场而变的偶次谐波分量的电势特性，通过高性能的磁通门调理电路测量偶次谐波分量，从而测得环境磁场的大小。1936年德国物理学家Aschenbrenner和Goubau首次采用二次谐波环芯探头测量大地磁场在水平方向上的冲击波动地磁变化，记录磁扰并提出磁通门的工作原理，随后 Lapierre、Autranikian、Vacquier等人对此项技术做了进一步的探索，从而证明了这种技术的可行,利用它制成的仪器也不断的获得发展。